从 TGV 到金属化,关键技术

发表时间:2026-02-23 14:31作者:半导体行业前沿

一、核心制程深度拆解:从通孔到金属化的精密协作


(一)TGV 制备:高深宽比通孔的多元技术路径

玻璃通孔(TGV)是实现玻璃基板垂直互连的核心结构,其成孔质量直接影响后续金属填充效果与电信号传输效率。目前主流成孔工艺各有侧重,需根据基板规格与量产需求精准选择:

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图1、不同玻璃通孔制备方法对比

(一)不同玻璃通孔制备方法介绍

1. 喷砂法:加工精度较低,应用场景较少

加工步骤:喷砂法要求在加工前先在玻璃基板上制作一层复合掩模,然后以制备的 复合掩模为基础,采用干粉喷砂工艺对玻璃晶片进行蚀刻。考虑到蚀刻效率和宽高 比,可在玻璃晶片的一侧先蚀刻一次,随后在玻璃晶片的另一侧也采用同样的工艺 步骤进行蚀刻,两次喷砂蚀刻过程中必须保证中心点完全对称以形成完整的通孔。

工艺特点:由于喷砂法制作的通孔非常粗糙,孔孔径较大且一致性较差,所以该方 法只能制作孔径较大(>200 μm)、间距较大的玻璃通孔,而逐渐退出三维集成封装的 应用范畴;同时,该工艺中使用的沙粒直径一般为20~50μm,如此大的颗粒碰撞会 对玻璃表面以及孔的侧壁造成封装系统无法接受的损伤,以此少见于先进封装工艺。

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图2、喷砂法制作的TGV结构

2. 聚焦放电法:通孔均匀性好,生产效率较低

加工步骤:聚焦放电主要包括两个步骤:1. 将玻璃放在两个电极之间,通过控制放 电对玻璃局部区域进行放电熔融;2. 通过焦耳热使玻璃内部产生高应力,引起内部 高压和介电击穿,上述步骤可以在不到1 μs的时间内就完成100~500 μm厚的玻璃通 孔制备,可以制备最小孔径为20μm、深宽比5~8的玻璃通孔。工艺特点:聚焦放电产生玻璃通孔的方法可以制备多种类型的玻璃,如石英、钠钙 玻璃、无碱玻璃、含碱玻璃等,且从聚焦放电制作的TGV阵列可以看出,该方法能 够制作均匀性较好、没有裂纹的高密度通孔。但由于此方法是单次进行单孔制作, 所以生产效率较低,且从玻璃通孔的切片结果来看,通孔的形状不是很垂直,可能 会影响后续填充的效果

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图3、聚焦放电制作TGV的示意图;TGV阵列和横截面扫描电镜图

3. 等离子体刻蚀:通孔可靠性提高,工艺成本较高

加工步骤:用等离子刻蚀法在石英玻璃上制作玻璃通孔步骤如下:1. 在石英上蒸发 沉积了一层铝层作为刻蚀硬掩模;2. 通过光刻的方法暴露出玻璃表面需要光刻的位 置;3. 用氯气或者三氯化硼腐蚀暴露的铝层,用氧气等离子体去除玻璃表面的光刻 胶;4. 利用全氟环丁烷/氩气等离子体蚀刻石英以形成TGV。

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图4、等离子体刻蚀法制作TGV的具体流程

工艺特点:等离子体法刻蚀TGV可以同时进行大面积的多个TGV刻蚀,因此生产效 率相较聚焦放电法可以得到改善,且因为其侧壁粗糙度小(<150nm)、侧壁无损伤, 拥有良好的可靠性保证。但是等离子刻蚀TGV的方法也还存在许多缺点,包括工艺 复杂,需要额外的多个步骤;生产成本高,需要用到掩膜版、光刻胶等;以及刻蚀速 率慢,速率小于1 μm/min。

4. 激光烧蚀法:通孔垂直度较高,但粗糙度、无裂纹无法兼顾

激光烧蚀TGV制作是利用激光的能量将玻璃烧蚀以形成玻璃通孔,可制备出垂直度高的玻璃通孔。激光烧蚀所使用激光器主要包括飞秒激光、皮秒激光、纳秒准分子 激光器和CO2激光器等。其中CO2激光属于“热激光”,其通过局部烧蚀玻璃材料形 成TGV,但利用该种激光制备的TGV侧壁裂纹较多(热应力问题);准分子激光器 属于“冷激光”,其烧蚀形成的TGV孔壁基本上没有裂纹出现,但是孔壁的粗糙度 略大(4~5 μm),且成孔效率较低。

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图5、CO2激光、准分子激光制作通孔(上图为CO2激光,下图为准分子激光)

5. 电化学放电加工法:工艺简单设备要求低,但可加工孔径较大

加工步骤:电化学放电加工法是一种将电火花加工(EDM)和电解加工(ECM)相 结合的新型低成本玻璃微加工方法。该方法通过电解液的电化学放电和化学腐蚀产 生的热熔作用,将材料从基板中去除。电化学加工的电解槽由一个碱性电解质溶液 (氢氧化钾、氢氧化钠等)和两个电极组成,工具电极和对电极分别连接到电源的 正、负端子上。当两个电极之间施加电位差时,在工具电极周围由于气泡的聚结而 形成一层薄薄的氢气膜,将工具电极与周围的电解液完全隔离。当电位差进一步增大时,氢气膜破裂,产生电化学放电,并将将玻璃融化并移除。

工艺特点:该方法不仅工艺简单,且对设备要求较低,能快速加工出TGV。但是目 前该方法只能加工出孔径大于300 μm且上开口大于下开口的锥形玻璃通孔,这也大 大限制了该方法的应用范围。

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图6、电化学放电法制备TGV装置

6. 光敏玻璃法:高密度、高深宽比通孔,但成本较高、材料受限

加工步骤:光敏玻璃法是指根据光敏玻璃材料特性,利用紫外曝光、热处理、湿法刻 蚀等方法实现玻璃通孔加工的工艺流程。加工前需先将玻璃进行预处理,即将玻璃 先后放入异丙醇和丙酮中分别超声清洗10min取出后用氮气吹干,除去玻璃表面杂质, 随后先通过紫外光对光敏玻璃进行曝光,并在马弗炉中进行热处理以让紫外线照射 过的区域材料变性成为陶瓷材料,最后通过氢氟酸溶液进行湿法刻蚀来去除陶瓷材 料,整个加工过程中需要精密的温度控制。

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图7、光敏玻璃通孔制备工艺流程图;光敏玻璃热处理温度曲线

工艺特点:基于光敏玻璃的TGV制作方法优势在于采用高刻蚀速率的湿法腐蚀可以 实现各向异性刻蚀,从而获得高密度、高深宽比的玻璃通孔。但是该技术也存在两 个问题:1. 价格昂贵,光敏玻璃本身的材料价格和工艺制程价格都相对较高;2. 对 于不同尺寸的图形,尤其是盲孔或者盲槽的刻蚀,由于腐蚀速率不同会造成图形定义精度差别较大;3. 由于需要高温处理,会导致玻璃在半固化状态下移动,造成结 构偏移。

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7. 激光诱导刻蚀法:目前最有大规模使用前景的工艺

加工步骤:通过脉冲激光诱导玻璃产生连续的变性区,相比未变性区域的玻璃,变 性玻璃在氢氟酸中刻蚀速率较快,基于这一现象可以在玻璃上制作通孔/盲孔。根据 《玻璃通孔三维互连镀铜填充技术发展现状》(纪执敬等),德国LPKF公司率先用 该技术实现了玻璃通孔制备,该公司将该方法分为两步:1. 使用皮秒激光在玻璃上 产生变性区域;2. 将激光处理过的玻璃放到氢氟酸溶液中进行刻蚀,该工艺可以制 备孔径最小为10μm的TGV通孔,典型深宽比在10:1的范围内,某些特殊条件下根据 玻璃类型可达到50:1。国内方面,厦门云天半导体科技有限公司成功开发了先进TGV 激光刻蚀技术,实现了深宽比为10:1的玻璃通孔量产,研发结果显示,该技术可以制 备深宽比为20:1的通孔和5:1的盲孔,且具备较好的形貌。

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图8、激光诱导刻蚀制作TGV的流程

工艺特点:激光诱导刻蚀法的反映机理与上文展示的光敏玻璃法类似,都是通过某 种光线的照射使得玻璃内部出现变性区域,然后通过酸溶液湿法刻蚀完成,区别在 于激光诱导刻蚀法对无需使用特殊的光敏玻璃。此外,激光诱导刻蚀法的优势还包括:1.可以在50~500μm 厚的玻璃上形成孔径大于20 μm的玻璃通孔,成孔质量均 匀,一致性好,无裂纹;2. 成孔速率快,可达到290TGV/s;3. TGV形貌可调,由于 刻蚀的各向异性,可以通过调节激光参数来控制TGV的垂直度和形貌。但也具有激 光诱导速度慢、制备过程复杂、激光诱导孔径受激光范围限制、表面易损伤及对材 料要求高等缺点。

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图9、激光诱导刻蚀形成通孔的显微镜图像

综合比较各种玻璃通孔制造技术,激光诱导刻蚀法具有低成本优势,有大规模应用前景。


(二)电镀技术:TGV 金属填充的三大关键步骤

电镀是将金属(主流为铜)沉积入 TGV 结构,实现垂直导电的核心工序,需经过 “种子层制备 - 金属填充 - 表面平整化” 三步闭环,每一步都需攻克技术难点:

  1. 种子层沉积:筑牢金属结合基础

    通过物理气相沉积(PVD)在 TGV 孔内及玻璃表面沉积扩散阻挡层与种子层,是保证金属与玻璃附着力的关键。主流方案为 “钛层 + 铜层” 复合结构:先溅射数十纳米厚的钛层(增强结合力),再叠加铜层(提升导电性),全程依赖高精度 PVD 镀膜设备。核心控制要点包括:


  • 靶材纯度(需≥99.999%):直接决定薄膜均匀性与杂质含量,避免影响电学性能;
  • 工艺参数:低气压(减少气体分子干扰,提升薄膜致密性)、适宜温度(促进原子扩散吸附)、精准溅射功率(控制薄膜生长速率与厚度均匀性)。
  1. TGV 金属填充:电镀铜的精准调控

    采用电镀铜技术从底部向上填充 TGV,需解决 “孔内无空洞、无缝隙” 的核心诉求。关键控制因素包括:


  • 电镀液配方:以硫酸铜(铜离子来源)+ 硫酸(增强导电性)为基础,添加整平剂(保证铜层均匀)、光亮剂(提升表面光泽度)、抑制剂(优先孔内填充,避免表面过度沉积);
  • 工艺参数:电流密度(过高易导致枝晶生长,过低影响填充效率)、温度(维持 20-30℃稳定区间)、时间(根据通孔深度与铜层厚度精准设定)。
  1. 表面平整化:湿法腐蚀 + CMP 协同优化

    去除玻璃表面多余铜层,确保基板平整度满足后续封装要求:


  • 湿法腐蚀:采用过硫酸铵等选择性腐蚀剂,精准控制腐蚀时间与溶液浓度,避免损伤孔内铜层;
  • CMP(化学机械抛光):结合化学腐蚀与机械摩擦,通过优化抛光垫(材质、硬度)与抛光液(成分、pH 值),实现表面平整度≤0.1μm 的严苛要求。


(三)薄膜溅镀:真空环境下的薄膜制备技术

薄膜溅镀是 PVD 技术的核心应用,在真空环境中通过等离子体轰击靶材,使材料原子均匀沉积于玻璃基板表面,形成种子层、阻挡层等关键薄膜。其技术核心在于:

  • 真空度控制:高真空环境(≤10⁻³Pa)减少气体分子对溅射原子的散射,提升薄膜沉积质量;
  • 电浆源参数:功率决定溅射原子数量,频率影响等离子体稳定性,需精准匹配靶材与基板特性;
  • 靶材与基板间距:过近易导致原子碰撞影响均匀性,过远则降低沉积速率,通常控制在 5-15cm 区间。



(四)玻璃通孔填孔技术:如何高质量进行金属填充

除了TGV成孔技术外,限制玻璃通孔应用的另一个技术难点是高质量的金属填充。一方面,与TSV不同,TGV孔径较大,且多为通孔,且受刻蚀工艺的影响,TGV孔的 形状不同,主要有盲孔、垂直通孔、X型通孔以及V型通孔四种类型,这些对铜的沉 积构成了较大的挑战,容易形成孔的“堵塞”;另一方面,与硅材料相比,由于玻璃 表面光滑,与常用金属的粘附性较差,容易造成玻璃衬底与金属层之间的分层现象, 导致金属层卷曲甚至脱落的现象

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图10、四种TGV孔型示意图

为了实现TGV的无孔洞、无缝隙填充,针对不同的孔形填充方式也各不相同。目前 主要的填充工艺包括“自下而上(Bottom-up)填充”、“蝶形填充(Butterfly Model, BFT)”和“共形填充(Conformal)”三种填充方式。

1. Bottom-up填充:盲孔的主要填充方式

目前,对于TGV盲孔的主要填充方式是Bottom-up的填充。通过在TGV孔口侧壁及 表面添加抑制剂,在盲孔底部添加加速剂的方式,可以在抑制TGV孔口侧壁及表面 铜的沉积速度的同时,加速盲孔底部的Cu沉积,从而让Cu形成一种“自下而上”的 填充方式来确保整个盲孔的填充过程中没有孔洞和缝隙的出现。

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图11、Bottom-up填充过程示意图

2. 蝶形填充:垂直TGV通孔的主要填充方式

目前,垂直TGV通孔的电镀填充方式一般为蝶形填充(BFT填充)。与盲孔填充相 比,通孔填充在流体力学与质量传输方面存在明显差异。盲孔填充时,镀液在孔内 很难流动,而镀液可以在通孔内部流动从而加强通孔内部的传质。且通孔与盲孔的 几何形状不同,没有盲孔所谓的底部,不会产生自下而上的填充方式。由于通孔与 盲孔在几何形状、流场、质量传输等方面的差异,导致用于盲孔填充的电镀配方无 法直接用于通孔的电镀填充。

蝶形填充的流程包括:1. 在TGV通孔壁上按照“两边多,中间少”的方式涂抹抑制 剂,从而影响通孔内次级电流的分布,让铜在孔的中心进行优先沉积的填充,形成 类似“蝴蝶”的形貌,故称之为蝶形填充;2. 当通孔的蝴蝶形状形成后,通孔转变 为两个对称的盲孔,填充方式由蝶形填充转变为Bottom-up填充,形成对通孔的完全填充。

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图12、蝶形填充过程示意图

Dimitrov 课题组提出了一种高深宽比TGV通孔电镀的改良方案。首先使用酒精对 TGV进行预润湿,然后在不含添加剂的甲基磺酸铜镀液中预先沉积一定厚度的铜, 紧接着使用四唑类添加剂噻唑蓝溴化四唑(MTT)作为抑制剂,在恒定电流和恒定 电压的模式下对TGV进行电镀填充。通过使用这种改进的工艺,可以在1h和4h内实 现对深宽比为5:1和10:1的TGV的完整填充,且与TNBT、NTBC相比,成本较低 (MTT:NTBC:TNBT=1:8:14)。但是该工艺的流程相对复杂,工业化生产难度较大, 不过甲基磺酸铜镀液所允许的Cu2+浓度(1.5 mol·L-1)远远大于硫酸铜镀液(0.9 mol·L-1),可以提高电镀填充的速率,对于高深宽比的TGV通孔填充更具意义。

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图13、改善后通孔填充过程包含的流程示意图

3. Conformal填充:X和V型通孔的主要填充方式

Conformal填充是通过添加剂的作用使得TGV孔内铜的沉积速率与孔的侧壁以及表 面的沉积速率相当的一种电镀方式。对于垂直的盲孔与通孔,conformal 填充模式 下随着填充过程的进行,其深宽比不断增大,在填充的最后阶段容易出现孔洞缺陷, 而X形、V形通孔由于其自身特殊孔形的原因,从根本上避免了中央孔洞缺陷的形成, 例如,X形通孔的中间区域较窄,在两侧Cu等速沉积的情况下会先于通孔中央形成 连接,然后逐步向上下两个方向进行类似“Bottom-up”的填充。相比于垂直通孔的 BFT电镀模式,Conformal的电镀模式由于加速剂的使用以及TGV孔形的原因,可以 实现更大电流密度下通孔的完整快速填充。

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题14、Conformal填充在垂直盲孔和通孔上会导致孔洞缺陷的存在

4. TGV孔内电镀薄层 除了以上三种TGV电镀填实工艺,TGV也可采用通孔内电镀薄层方案实现电学连接。根据《玻璃通孔技术研究进展》(陈力等),在电性能方面薄层电镀与实心电镀的插入损耗差别较小,采用薄层电镀方案的优势是在保证电学性能的同时可以有效减小 电镀时间和电镀成本。通常电镀填孔需要现在玻璃通孔壁上沉积金属粘附层如钛(Ti)、 铬(Cr)等种子层,然后再进行Cu电镀,否则会出现脱落等现象。根据NSC日本株式 会社官网,相比电镀填实工艺,通孔内电镀薄层的孔深和孔径适用范围都更大,应 用范围更广。

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图15、电镀填实工艺和通孔电镀薄层方案的对比(左为电镀薄层)

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图16、TGV孔内镀膜方式对比

但是对于高深宽比通孔来说,物理气相沉积的设备和工艺过于昂贵,因此近年来研 发人员在开发采用化镀Cu种子层TGV低成本填充方案。根据《玻璃通孔技术研究进 展》(陈力等),美国安美特公司报道了金属氧化物黏附增强方法,通过把玻璃基板 浸入化学药液,覆盖纳米厚度的金属氧化物助黏胶形成黏附层提高化镀Cu层的黏附 力,当黏附层的厚度增加至5~20nm时,Cu与玻璃之间的剥离强度达到6 N/cm以上。乔治亚理工学院研发人员将环氧聚合物干膜贴在玻璃表面,提高化镀Cu与玻璃之间 的结合力,在薄玻璃衬底上层压介质层,在增强玻璃衬底机械强度的同时,可以作为表面RDL的黏附层,增强抗剥离强度。

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图17、美国安美特公司可以制出9nm厚的金属氧化物粘附层以提高Cu黏附力;通过聚合物干膜方案来增强Cu的黏附力

来源 半导体行业前沿

来源 PVD镀膜


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